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  • 塞貝克系數電阻測試儀用于高校熱電效應研究
    塞貝克系數電阻測試儀用于高校熱電效應研究

    更新時(shí)間:2025-07-04

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    華測儀器的HC-RD-1100塞貝克系數電阻測試儀用于高校熱電效應研究,可以同時(shí)測定樣品在RT至1500℃溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率。
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  • HC-RD-1100塞貝克系數電阻測試儀
    HC-RD-1100塞貝克系數電阻測試儀

    更新時(shí)間:2025-07-04

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    HC-RD-1100塞貝克系數電阻測試儀:熱電效應描述了材料中溫度和電的相互影響,它基于三個(gè)基本效應:塞貝克效應、珀爾帖效應和湯姆森效應。塞貝克效應是1821年由德國物理學(xué)家J. T. Seebeck發(fā)現的,描述了在電絕緣導體中施加溫度梯度時(shí)電場(chǎng)的形成。
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