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塞貝克系數電阻測試儀的主要功能、測試范圍及測試條件綜合說(shuō)明?

更新時(shí)間:2025-06-27      點(diǎn)擊次數:346


塞貝克系數電阻測試儀的主要功能、測試范圍及測試條件綜合說(shuō)明


一、主要功能

雙參數同步測試

l 塞貝克系數:采用靜態(tài)直流法,測量材料在溫差下的熱電勢(單位:μV/K)。

l 電阻率/電導率:通過(guò)四端法測量電阻,計算電導率(單位:S/cm)。

l 數據集成分析:支持同步獲取塞貝克系數和電阻率數據,直接計算熱電優(yōu)值(ZT值),用于評估材料的熱電轉換效率。

智能軟件系統

l 自動(dòng)完成信號激勵、數據采集、實(shí)時(shí)處理及結果輸出,支持曲線(xiàn)比較、一階/二階求導、多重峰分析等功能。

l 支持數據導出至Excel、ASCII格式,兼容樣品溫度多點(diǎn)校正和焓變校正。


塞貝克系數電阻測試儀的主要功能、測試范圍及測試條件綜合說(shuō)明?


二、測試范圍

參數

范圍

精度/重復性

溫度范圍

RT(室溫)~1500℃

閉環(huán)溫控(K/S/C型熱電偶)

塞貝克系數

1~2500 μV/K

準確度±7%,重復性±3%

電導率

0.01~2×10? S/cm

準確度±5~8%,再現性±3%

電阻率

覆蓋絕緣體到導體全品類(lèi)材料

四端法減少接觸誤差








三、測試條件

環(huán)境控制

l 氣氛類(lèi)型:惰性、氧化、還原、真空環(huán)境。

l 適用場(chǎng)景:高溫合金在還原氣氛下的穩定性測試、燃料電池催化劑的氧化環(huán)境導電性分析等。

l 樣品兼容性

樣品形狀:圓柱形或棱柱形:2 至 5 mm(面寬),23mmφ6mm,23mm、圓盤(pán)狀(10、 12.7、 25.4 mm)。

l 夾持結構: 三明治夾持設計,探頭距離可調(4/6/8mm),確保接觸穩定性。

l 電極材料: 鎳電極(-100~500℃)、鉑電極(-100~1500℃)。

l 長(cháng)期穩定性:電源輸出0~1A,支持連續高溫實(shí)驗(如1500℃下長(cháng)周期測試)。


四、典型應用場(chǎng)景

l 熱電材料開(kāi)發(fā):半導體、方鈷礦等材料的ZT值計算。

l 能源器件研究:鋰電電極電阻率、固態(tài)電解質(zhì)界面特性分析。

l 惡劣環(huán)境測試:高溫超導材料在真空/還原氣氛下的電輸運特性。



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