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華測-高壓漏電起痕測試儀器

更新時(shí)間：2025-06-06

型號：

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華測-高壓漏電起痕測試儀器配合電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開(kāi)關(guān)、高壓交直流變壓器元件構成。高壓漏電起痕試驗是在工頻電壓下,通過(guò)液體污染和傾斜試樣評定,在環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐級升壓漏電起痕電壓法。
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HCDH-3華測高壓漏電起痕測試儀CTI/PTI

更新時(shí)間：2025-06-06

型號：HCDH-3

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華測高壓漏電起痕測試儀，是指在固體絕緣材料表面，在電場(chǎng)和電解液的聯(lián)合作用下逐漸形成導電通路的過(guò)程。這個(gè)過(guò)程被稱(chēng)為漏電起痕，而絕緣材料表面抗漏電起痕的能力則稱(chēng)為耐漏電起痕。漏電起痕試驗是評估絕緣材料在特定條件下的耐漏電性能的一種方法，通過(guò)模擬在潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的環(huán)境，測定材料的相比漏電起痕指數（CTI）和耐電痕化指數（PTI）。華測高壓漏電起痕測試儀CTI/PTI
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HCLD-3漏電起痕試驗儀

更新時(shí)間：2024-08-29

型號：HCLD-3

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華測儀器-低壓漏電起痕試驗儀是按IEC60695、GB4207/IEC60112等標準要求設計制造的試驗儀器。適用于固體絕緣材料在潮濕條件下相比漏電起痕指數和耐漏電起痕指數的測定，具有簡(jiǎn)便、準確、可靠、實(shí)用等特點(diǎn)。
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HCDH-300低壓漏電起痕測試儀器

更新時(shí)間：2024-08-26

型號：HCDH-300

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低壓漏電起痕測試儀器（電痕化指數試驗）是在固體絕緣材料表面上，在規定尺寸（ 2mm × 5mm ）的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí) （30s）定高度（ 35mm ）滴下規定液滴體積的導電液體（0.1%NH 4 CL），用以評價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電，測定其相比電痕化指數（CT1）和耐電痕化指數（PT1）。
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HCDH-200華測固體絕緣材料耐電痕化指數測試儀

更新時(shí)間：2024-06-04

型號：HCDH-200

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華測固體絕緣材料耐電痕化指數測試儀，主要是模擬家用電器產(chǎn)品在實(shí)際使用中不同極性帶電部件在絕緣材料表面沉積的導電物質(zhì)是否引起絕緣材料現在爬電、擊穿短路和起火危險。電氣產(chǎn)品在使用過(guò)程中，由于環(huán)境的污染導致絕緣材料表面有污物、潮氣而產(chǎn)生的漏電，因此誘發(fā)的腐蝕而損壞絕緣。
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HCDH-200北京華測耐電痕化指數測試儀器

更新時(shí)間：2024-06-08

型號：HCDH-200

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北京華測耐電痕化指數測試儀器主要是模擬家用電器產(chǎn)品在實(shí)際使用中不同極性帶電部件在絕緣材料表面沉積的導電物質(zhì)是否引起絕緣材料現在爬電、擊穿短路和起火危險。電氣產(chǎn)品在使用過(guò)程中，由于環(huán)境的污染導致絕緣材料表面有污物、潮氣而產(chǎn)生的漏電，因此誘發(fā)的腐蝕而損壞絕緣。
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HCDH-200耐電痕化指數測試儀器

更新時(shí)間：2023-08-29

型號：HCDH-200

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耐電痕化指數測試儀器主要是模擬家用電器產(chǎn)品在實(shí)際使用中不同極性帶電部件在絕緣材料表面沉積的導電物質(zhì)是否引起絕緣材料現在爬電、擊穿短路和起火危險。電氣產(chǎn)品在使用過(guò)程中，由于環(huán)境的污染導致絕緣材料表面有污物、潮氣而產(chǎn)生的漏電，因此誘發(fā)的腐蝕而損壞絕緣。
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HCDH-200北京華測*耐電痕化指數測試儀器

更新時(shí)間：2023-08-29

型號：HCDH-200

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北京華測*耐電痕化指數儀（電痕化指數試驗）是在固體絕緣材料表面上，在規定尺寸（ 2mm × 5mm ）的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí) （30s）定高度（ 35mm ）滴下規定液滴體積的導電液體（0.1%NH 4 CL），用以評價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電，測定其相比電痕化指數（CT1）和耐電痕化指數（PT1）。北京華測*耐電痕化指數測試儀器
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