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  • MLCC高溫/低溫介電溫譜頻譜試驗儀
    MLCC高溫/低溫介電溫譜頻譜試驗儀

    更新時(shí)間：2024-12-08

    型號：

    瀏覽量：3055

    華測MLCC高溫/低溫介電溫譜頻譜試驗儀，為了滿(mǎn)足材料在高溫環(huán)境下的介電測量需求而設計的。主要應用于應用領(lǐng)域：復合絕緣擦亮 、高分子絕緣材料 、無(wú)機絕緣材料 、有機絕緣材料 、其它絕緣材料等 。
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  • HCWP-1000型MLCC高溫介電溫譜/頻譜測試儀
    HCWP-1000型MLCC高溫介電溫譜/頻譜測試儀

    更新時(shí)間：2024-12-12

    型號：HCWP-1000型

    瀏覽量：2418

    MLCC高溫介電溫譜/頻譜測試儀，運用三電極法設計原理測量。重復性與穩定性好，采用雙屏蔽高頻測試線(xiàn)纜，提高測試參數的準確度，同時(shí)抗擾能力強。本設備也可應用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途。
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  • Huace450P北京華測高低溫介電溫譜儀
    Huace450P北京華測高低溫介電溫譜儀

    更新時(shí)間：2024-12-12

    型號：Huace450P

    瀏覽量：2851

    北京華測高低溫介電溫譜儀，設備測試頻率可達120MHz，采用直接聯(lián)接阻抗分析儀以減少測試導線(xiàn)的影響，同時(shí)電極加熱采用直流電極加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對測量?jì)x表的干擾。
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  • HCWP-1000MLCC多通道介電溫譜/頻譜測試儀/測薄膜陶瓷
    HCWP-1000MLCC多通道介電溫譜/頻譜測試儀/測薄膜陶瓷

    更新時(shí)間：2024-12-08

    型號：HCWP-1000

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    MLCC多通道介電溫譜/頻譜測試儀/測薄膜陶瓷，專(zhuān)用儀器是為了滿(mǎn)足材料在高溫環(huán)境下的介電測量需求而設計的。從專(zhuān)業(yè)角度來(lái)說(shuō)，其實(shí)就是高溫介電溫譜測量系統。主要用于絕緣材料在不同溫 度不同頻率下的電學(xué)測試，系統包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測試軟件于一體.
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  • HCJD高低溫寬頻介電溫譜測試儀系統
    HCJD高低溫寬頻介電溫譜測試儀系統

    更新時(shí)間：2024-12-08

    型號：HCJD

    瀏覽量：3557

    華測高低溫介電溫譜測試儀系統運用三電極法設計原理測量。重復性與穩定性好，采用雙屏蔽高頻測試線(xiàn)纜，提高測試參數的準確度，同時(shí)抗擾能力強。本設備也可應用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途。
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  • MLCC多通道介電溫譜儀/陶瓷薄膜半導體塊狀
    MLCC多通道介電溫譜儀/陶瓷薄膜半導體塊狀

    更新時(shí)間：2024-12-08

    型號：

    瀏覽量：2387

    MLCC多通道介電溫譜儀/陶瓷薄膜半導體塊狀，為了滿(mǎn)足材料在高溫環(huán)境下的介電測量需求而設計的。它由硬件設備和測量軟件組成，包括高溫測試平臺、高溫測試夾具、阻抗分析儀和高溫介電測量系統軟件四個(gè)組成部分。
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  • 介電溫譜試驗儀可測薄膜陶瓷等定制專(zhuān)業(yè)夾具
    介電溫譜試驗儀可測薄膜陶瓷等定制專(zhuān)業(yè)夾具

    更新時(shí)間：2024-12-08

    型號：

    瀏覽量：3696

    介電溫譜試驗儀可測薄膜陶瓷等定制專(zhuān)業(yè)夾具，主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)測試，系統包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測試軟件于一體，可測試材料的介電常數，介質(zhì)損耗，阻抗譜Co-Co圖，機電耦合系數等，同時(shí)可分析被測樣品隨溫度，頻率，時(shí)間變化的曲線(xiàn)，測試治具可以根據產(chǎn)品及測試項目要求選購。
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  • 高低溫介電溫譜儀/頻率譜溫度譜介電譜曲線(xiàn)
    高低溫介電溫譜儀/頻率譜溫度譜介電譜曲線(xiàn)

    更新時(shí)間：2024-12-08

    型號：

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    高低溫介電溫譜儀/頻率譜溫度譜介電譜曲線(xiàn)，公司開(kāi)發(fā)的高低溫阻抗、介電測量系統軟件將高溫測試平臺，高溫測試夾具與WK6500系列、Agilent（Keysight）4294A/E4980A/E4990A、Tonghui TH2826/2827/TH2810、Solartron1260LCR測量設備無(wú)縫連接，實(shí)現了自動(dòng)完成高溫環(huán)境下的阻抗、介電參數的測量與分析。
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