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  • AMR-UD導通電阻評估系統 可靠性電路測試系統
    AMR-UD導通電阻評估系統 可靠性電路測試系統

    更新時(shí)間:2024-07-23

    型號:AMR-UD

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    導通電阻評估系統 可靠性電路測試系統在低溫、高溫的溫度循環(huán)環(huán)境下,采用4端子測試法對焊點(diǎn)、連接器接點(diǎn)等導體進(jìn)行多通道微小電阻連續測量,以評估電子裝配與材料的正確性和可靠性。操作軟件可實(shí)時(shí)自動(dòng)測量記錄數據,圖表化微小電阻變化及試驗箱溫度變化,可通過(guò)LAN進(jìn)行數據處理
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