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簡(jiǎn)要描述：MLCC多通道介電溫譜/頻譜測試儀/測薄膜陶瓷，專(zhuān)用儀器是為了滿(mǎn)足材料在高溫環(huán)境下的介電測量需求而設計的。從專(zhuān)業(yè)角度來(lái)說(shuō)，其實(shí)就是高溫介電溫譜測量系統。主要用于絕緣材料在不同溫 度不同頻率下的電學(xué)測試，系統包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測試軟件于一體.
產(chǎn)品型號：HCWP-1000廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家更新時(shí)間：2024-12-08訪(fǎng) 問(wèn) 量：2372產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category詳細介紹
| 品牌 | HUACE/北京華測 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,能源,電子/電池,電氣 |
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
華測高溫介電溫譜測試儀-專(zhuān)用儀器是為了滿(mǎn)足材料在高溫環(huán)境下的介電測量需求而設計的。它由硬件設備和測量軟件組成，包括高溫介電測量?jì)x主機、高溫介電測量系統軟件、高溫測試夾具、阻抗分析儀四個(gè)組成部分。根據測量需要，還可以外接真空油泵進(jìn)行真空環(huán)境的介電測量。高溫測試平臺是為樣品提供一個(gè)高溫環(huán)境；高溫測試夾具提供待測試樣品的測試平臺；阻抗分析儀則負責測試各組參數數據。后，再通過(guò)測量軟件將這些硬件設備的功能整合在一起，形成一套由實(shí)驗方案設計到溫度控制、參數測量、圖形數據顯示與數據分析于一體的高溫介電溫譜測量系統。
系統介紹：
系統配置：Acer商用計算機，信號切換與控制系統，高溫儀及溫控系統，四通道夾具， 測試與數據采集軟件（軟件兼容同惠LCR表以及是德（安捷倫）E4980AL型LCR表和4294A型阻抗分析儀）；
輸入端口：四個(gè)BNC端口；
輸出端口：10個(gè)SMA輸出端口，需采用SMA接頭以提高高頻測試穩定性（頻率大于1MHz時(shí)）；
溫度范圍：室溫 850℃（額定溫區，長(cháng)時(shí)間使用溫度），室溫1000℃（ji限溫區，短時(shí)間使用）；
系統屏蔽：通道切換主板預埋屏蔽層設計，連接線(xiàn)材采用射頻同軸線(xiàn)，以保證低頻與高頻測試精度和穩定性；
測試夾具：融石英與探針復合夾具。其中探針需使用氧化鋁與鉑金復合結構，芯層為鉑金，絕緣層為氧化鋁。以保證長(cháng)期高溫測試穩定性；
同時(shí)測量樣品數：4個(gè)；
測試頻率范圍：20Hzzhi10 MHz(依據配套LCR表或阻抗分析儀頻率)，基本準確度0.05%；
升溫速率：升溫速率0.1-10℃/min，測溫精度±0.1℃
測試樣品直徑：2 mmzhi25 mm；
樣品厚度：0.02 mmzhi4 mm；
單樣品測試頻率數：少6個(gè)頻率測量功能；
變溫介電頻譜測試功能；
變溫阻抗測試功能。
應用領(lǐng)域：
復合絕緣材料
高分子絕緣材料
無(wú)機絕緣材料
有機絕緣材料
其它絕緣材料等
技術(shù)參數:
溫度范圍 | 室溫~1000℃ |
溫度精度 | ±1℃ |
測量精度 | 0.05% |
升溫速率 | 10℃ |
控溫方式 | PID |
頻率范圍 | 20HZ-30MHZ |
電極材料 | 鉑金 |
通道數 | 通道 1 |
測量環(huán)境 | 常溫真空氣氛 |
通訊方式 | USB |
設備尺寸 | 600X400X650m |
MLCC多通道介電溫譜/頻譜測試儀/測薄膜陶瓷
MLCC多通道介電溫譜/頻譜測試儀/測薄膜陶瓷
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