国产乱人伦偷精品视频免下载,欧美疯狂性受XXXXX另类,欧美精品偷自拍另类在线观看,亚洲欧美日韩中文在线制服,热re99久久精品国产99热

您好！歡迎訪(fǎng)問(wèn)北京華測試驗儀器有限公司網(wǎng)站！
全國服務(wù)咨詢(xún)熱線(xiàn)：

13911821020

  • HC-TSC2000半導體封裝材料TSDC測試系統
    HC-TSC2000半導體封裝材料TSDC測試系統

    更新時(shí)間：2024-12-06

    型號：HC-TSC2000

    瀏覽量：1256

    半導體封裝材料TSDC測試系統因為熱刺激電流與材料的這些參數（如h與τ）密切相關(guān)，故它是一種研究介電材料、絕緣材料、半導體材料等的有效手段。tsc是指當樣品受到電場(chǎng)極化后，去掉電場(chǎng)，熱激時(shí)，樣品從極化態(tài)轉變到平衡態(tài)的過(guò)程中，在外電路中得到的電流，稱(chēng)為熱激退極化電流。
    了解詳情
共 1 條記錄，當前 1 / 1 頁(yè)  首頁(yè)  上一頁(yè)  下一頁(yè)  末頁(yè)  跳轉到第頁(yè) 
北京華測試驗儀器有限公司
地址：北京海淀區
郵箱：LH13391680256@163.com
傳真：
關(guān)注我們
歡迎您關(guān)注我們的微信公眾號了解更多信息：
歡迎您關(guān)注我們的微信公眾號
了解更多信息

京公網(wǎng)安備11011302007496號