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  • HCQD-4長(cháng)期耐腐蝕老化試驗平臺/評估老化腐蝕現象
    HCQD-4長(cháng)期耐腐蝕老化試驗平臺/評估老化腐蝕現象

    更新時(shí)間:2024-12-12

    型號:HCQD-4

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    長(cháng)期耐腐蝕老化試驗平臺/評估老化腐蝕現象面對材料越來(lái)越小型輕量及高密度封裝,因結露、吸濕、電場(chǎng)環(huán)境等因素造成的絕緣不良現象暨離子遷移現象日益突出,長(cháng)期電化學(xué)腐蝕平臺,可高的精度連續試驗,高效簡(jiǎn)便評估因老化腐蝕現象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問(wèn)題。
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