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可以評估因老化腐蝕現象引起的壽命及絕緣電阻劣化問(wèn)題的設備?

更新時(shí)間:2024-11-07      點(diǎn)擊次數:601

可以評估老化腐蝕現象引起的壽命及絕緣電阻劣化問(wèn)題的設備?

產(chǎn)品介紹:

面對材料越來(lái)越小型輕量及高密度封裝,因結露、吸濕、電場(chǎng)環(huán)境等因素造成的絕緣不良現象暨離子遷移現象日益突出,長(cháng)期電化學(xué)腐蝕平臺,可高精度連續試驗,高效簡(jiǎn)便評估因老化腐蝕現象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問(wèn)題。

試驗系統能夠模擬各類(lèi)工業(yè)制品、零部件以及原材料的實(shí)際生產(chǎn)、使用、儲存和運輸過(guò)程中的高壓伴隨著(zhù)低溫、高溫、潮濕、干燥、高低溫濕熱交變、快速溫度變化、溫度循環(huán)等環(huán)境因素的影響,以測試其功能、性能及壽命的完整性和可靠性。

設備參數:

可以評估因老化腐蝕現象引起的壽命及絕緣電阻劣化問(wèn)題的設備?


可以評估因老化腐蝕現象引起的壽命及絕緣電阻劣化問(wèn)題的設備?


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