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華測半導體封裝材料高低溫真空探針臺

簡(jiǎn)要描述:華測半導體封裝材料高低溫真空探針臺,溫度范圍77K-675K(液氮);可應用于真空及常規環(huán)境;超高溫度分辨率;特殊客制低溫系統;具有較好穩定性

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新時(shí)間:2024-12-12
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:1829

詳細介紹

品牌HUACE/北京華測產(chǎn)地類(lèi)別國產(chǎn)
應用領(lǐng)域化工,能源,電子/電池,電氣,綜合

Huace HT-11高低溫真空探針臺

華測半導體封裝材料高低溫真空探針臺



華測半導體封裝材料高低溫真空探針臺特點(diǎn)/應用

◆ 2至6英寸樣品臺

◆ 高真空腔體

◆ 防輻射屏設計,樣品溫度均勻性更好

◆ 77K-675K高低溫環(huán)境

◆ 兼容IV/CV/RF測試

◆ 外置多探針臂,移動(dòng)行程大

◆ 經(jīng)濟實(shí)用,可無(wú)縫升級


華測半導體封裝材料高低溫真空探針臺極低溫測試:

因為晶圓在低溫大氣環(huán)境測試時(shí),空氣中的水汽會(huì )凝結在晶圓上,會(huì )導致漏電過(guò)大或者探針無(wú)法接觸電極而使測試失敗。避免這些需要把真空腔內的水汽在測試前用泵抽走,并且保持整個(gè)測試過(guò)程泵的運轉。

高溫無(wú)氧化測試:

當晶圓加熱至300℃,400℃,500℃甚至更高溫度時(shí),氧化現象會(huì )越來(lái)越明顯,并且溫度越高氧化越嚴重。過(guò)度氧化會(huì )導致晶圓電性誤差,物理和機械形變。避免這些需要把真空腔內的氧氣在測試前用泵抽走,并且保持整個(gè)測試過(guò)程泵的運轉。

  晶圓測試過(guò)程中溫度在低溫和高溫中變換,因為熱脹冷縮現象,定位好的探針與器件電極間會(huì )有相對位移,這時(shí)需要針座的重新定位,針座位于腔體外部。我們也可以選擇使用操作桿控制的自動(dòng)化針座來(lái)調整探針的位置。


華測半導體封裝材料高低溫真空探針臺技術(shù)參數:

腔體規格

樣品臺尺寸

2英寸/4英寸/6英寸

樣品固定

彈簧壓片

觀(guān)察窗口

2英寸/4英寸/6英寸

真空度

10-6torr

探針臂接口

4~6個(gè)探針臂接口

其他接口

電信接口、真空接口、光纖接口、冷源接口

制冷方式

液氮/液氦/制冷機

溫度范圍

77K到573K/4.5K到573K

溫控精度

0.1K/0.01K/0.001K

穩定性

±1K/±0.1K/±0.01K外形

外形

880mm長(cháng)*880mm寬*600mm高/980mm長(cháng)*980mm寬*600mm高

重量

約20KG/30KG

光學(xué)系統

顯微鏡類(lèi)型

單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡

放大倍率

16X-200X/20X-4000X

移動(dòng)行程

水平360度旋轉,Z軸行程50.8mm

光源

外置LED環(huán)形光源/同軸光源

CCD

200萬(wàn)像素/500萬(wàn)像素/1200萬(wàn)像素

探針臂

X-Y-Z移動(dòng)行程

50mm*50mm*50mm

結構

外置探針臂,真空波紋管結構

移動(dòng)精度

10微米/1微米

線(xiàn)纜

同軸線(xiàn)/三軸線(xiàn)/射頻線(xiàn)

漏電精度

10pA/100fA/10fA

固定探針

彈簧固定/管狀固定

接頭類(lèi)型

BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚(yú)夾/接線(xiàn)端子

頻率支持

DC-67GHZ

針尖直徑

0.5微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米

其他組件

真空組件

分子泵組/機械泵/離子泵

冷源組件

50L/100L液氮罐/液氦罐/制冷機

可選附件:

超高溫配件;
顯示器;
轉接頭;
射頻測試配件;

屏蔽箱;

光學(xué)平臺;
鍍金卡盤(pán);
光電測試配件;

高壓測試配件;

分子泵組;

激光系統;

氣敏測試配件;




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