簡(jiǎn)要描述:絕緣電阻劣化離子遷移評估系統/電路板測試配之以高溫高濕試驗箱聯(lián)動(dòng),可連續監測,高效簡(jiǎn)便評估因離子遷移現象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問(wèn)題。適用標準:JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6。
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品牌 | HUACE/北京華測 | 應用領(lǐng)域 | 電氣,綜合 |
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面對電子產(chǎn)品越來(lái)越小型輕量及高密度封裝,華測絕緣電阻劣化(離子遷移)評估系統配之以高溫高濕試驗箱聯(lián)動(dòng),適用標準:JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6。
測試步驟:
一、從整盤(pán)線(xiàn)纜中截取樣品線(xiàn)10m(不小于10m,測量誤差應不超過(guò)1%),然后打彎兩端剝開(kāi)100mm放在水浴中,留在水外面的兩端長(cháng)度應不小于250mm。
二、接上電源,打開(kāi)設備。接上設備的兩根測試線(xiàn),一根為紅色的高壓端接線(xiàn)纜線(xiàn)芯的導體上作為測試的一極,另一根黑色的低端測試線(xiàn)接上一個(gè)導體放在水中作為測試的另一極。
三、根據試驗要求調節電壓檔旋鈕選擇需要的電壓。然后開(kāi)始調節電阻檔旋鈕,在調節的過(guò)程中一邊調節一邊注意數碼管顯示的數值直到數值發(fā)生變化,停止調節電阻檔旋鈕,此時(shí)調節定時(shí)器為60s,然后啟動(dòng)定時(shí)器并把測試旋鈕調到測試位置。此時(shí)就開(kāi)始測試了,定時(shí)60s結束后儀器會(huì )自動(dòng)結束測試,此時(shí)數碼管顯示的數值乘以電阻檔的調節旋鈕對應的數值就是所取樣品線(xiàn)的絕緣電阻值。
四、測試完畢后,應把測試旋鈕調到放電狀態(tài),等1minutes中后取下樣品和測試線(xiàn)。
五、完成測試。
絕緣電阻劣化離子遷移評估系統/電路板測試
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