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簡(jiǎn)要描述：鐵電隨機存儲器測試儀內存窗口信息是基于對器件集成后進(jìn)行模擬電滯回線(xiàn)測量后得出的?？梢允褂肁ccess Time程序進(jìn)行相同脈沖強度下不同幅值相同脈沖寬度或相同脈沖幅值不同脈沖寬度的測試。這些測試是基于技術(shù)：原位寄生電容補償。華測鐵電分析儀 國產(chǎn)可定制
產(chǎn)品型號：廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家更新時(shí)間：2025-01-14訪(fǎng) 問(wèn) 量：2264產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category詳細介紹
| 品牌 | HUACE/北京華測 | 應用領(lǐng)域 | 化工,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
|---|
華測鐵電分析儀 國產(chǎn)可定制
華測鐵電分析儀 國產(chǎn)可定制應用領(lǐng)域：
鐵電存儲器的生產(chǎn)
生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量控制，以便不會(huì )影響到CMOS生產(chǎn)過(guò)程
在MHz的操作速度下，單級電滯回線(xiàn)數據
優(yōu)點(diǎn)：
生產(chǎn)過(guò)程的工藝優(yōu)化
在MHz范圍的時(shí)間影響測試
適用于2T-2C 設計和1T-1C設計
從模擬測試數據得出內存窗口信息
客戶(hù)可定制測試環(huán)境
升級服務(wù)
客戶(hù)支持
程序功能：
可以在單一器件上進(jìn)行電滯回線(xiàn)、PUND脈沖測試等測試過(guò)程。
上升時(shí)間Z低可實(shí)現1μm，自定義的測試脈沖可以用于測試不同類(lèi)型的失效機制。預極化脈沖參數可以在測試序列里單獨設置。
可以使用Access Time程序進(jìn)行相同脈沖強度下不同幅值相同脈沖寬度或相同脈沖幅值不同脈沖寬度的測試。
這些測試是基于技術(shù)：原位寄生電容補償。
特點(diǎn)：
FeRAM測試儀是用來(lái)記錄測試單元電滯回線(xiàn)的，測試儀生成所需要的時(shí)間。
如果芯片的布局發(fā)生變化，可以自動(dòng)獲取材料特性較大的陣列。這種情況下，測試儀是用一個(gè)開(kāi)關(guān)盒和一個(gè)探針臺工作的。軟件可以自動(dòng)調整設置的參數。
參數的統計評價(jià)是通過(guò)aixPlorer完成的。
FeRAM測試儀的優(yōu)點(diǎn)就是可以使重要信息流程化，從而提高產(chǎn)量，降低了成本，從而減少了產(chǎn)品上市的時(shí)間。相關(guān)的數字結果和模擬實(shí)驗提供了重要信息。
FeRAM測試儀擁有高分辨測量和速度到微秒的測量功能。
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