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簡(jiǎn)要描述：高溫鐵電測試儀/分析儀用于鐵電體的鐵電測量，本測試系統主要包括可編程信號源、微電流放大器、積分器、放大倍數可編程放大器、模/數轉換器數/模轉化器、微機接口部分、微機和應用軟件等部分組成。
產(chǎn)品型號：HCTD-800廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家更新時(shí)間：2024-12-12訪(fǎng) 問(wèn) 量：2288產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category詳細介紹
| 品牌 | HUACE/北京華測 | 應用領(lǐng)域 | 化工,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
|---|
高溫鐵電測試儀
產(chǎn)品名稱(chēng)：高溫鐵電測試儀
產(chǎn)品型號：HCTD-800高溫鐵電測試儀/分析儀
品牌：北京華測
產(chǎn)品介紹
本測試儀用于鐵電體的鐵電測量，本測試系統主要包括可編程信號源、微電流放大器、積分器、放大倍數可編程放大器、模/數轉換器數/模轉化器、微機接口部分、微機和應用軟件等部分組成。
本測試系統采用虛地模式測量電路，與傳統的Sawyer-Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環(huán)節，比較容易定標和，并且能實(shí)現較高的測量準確度，它不僅能畫(huà)出鐵電薄膜的電滯回線(xiàn)，還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流Ik等參數，以及對鐵電薄膜材料鐵電疲勞、鐵電保持的測試。能夠較全面準確地測量鐵電薄膜的鐵電。儀器采用一體化設計，實(shí)現測試結果全數字化，操作簡(jiǎn)單方便。
鐵電材料參數測試儀主要是由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發(fā)生器及正、負矩形脈沖和雙極性雙脈沖發(fā)生器外加鐵電材料電滯回線(xiàn)、I-V特性及開(kāi)關(guān)特性測量電路構成。適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電測量，可測量鐵電薄膜電滯回線(xiàn)、I-V特性及開(kāi)關(guān)特性，可準確地測出具有非對稱(chēng)電滯回線(xiàn)鐵電薄膜的Pr值?？蓽y鐵電體材料的電滯回線(xiàn)及IV特性。同時(shí)也可作為一臺通用信號發(fā)生器、高壓信號發(fā)生器使用。
產(chǎn)品特點(diǎn)
電滯回線(xiàn)測量、鐵電材料的飽和極化±Ps、剩余極化±Pr、矯頑場(chǎng)±Ec、電容量C等參數
鐵電疲勞測量
鐵電保持測量
電阻測量
漏電流測量
精度高的三維移動(dòng)平臺
軟件功能
HC5000系列測試系統的軟件平臺hacepro,采用labview系統開(kāi)發(fā)，符合導體、半導體材料的各項測試需求，具備穩定性與an全性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料可保存恢復，。兼容，XP、win7、win10系統。
友善的使用界面
多語(yǔ)界面：支持中文/英文 兩種語(yǔ)言界面；
即時(shí)監控：系統測試狀態(tài)即時(shí)瀏覽，無(wú)需等待；
圖例管理：通過(guò)軟件中的狀態(tài)圖示，一目了然，立即對狀態(tài)說(shuō)明，了解測試狀態(tài)；
使用權限：可設定使用者的權限，方便管理；
故障狀態(tài)：軟件具有設備的故障報警功能。
硬件支持
集成Intel@Celeron1037U1.8GHZ雙核處理器
集成打印機接口，可擴充8個(gè)USB接口
支持16G內存，60G固體硬盤(pán)，讓系統運行流暢。
應用領(lǐng)域
鐵電材料的電滯回線(xiàn)（動(dòng)態(tài)與靜態(tài)）、漏電流等特性。
測量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時(shí)的電流響應。
超晶格材料在方波脈沖電壓激勵下的自漏電特性。
技術(shù)參數
1、電壓范圍：±30V（可擴展至±4KV）
2、輸出電流峰值：±1A
3、負荷電容max：1μF
4、動(dòng)態(tài)電滯回線(xiàn)測試頻率：0.001Hx～100kHz
5、鐵電材料漏電流的測試：10pA～100mA
6、脈沖寬度min：25ns
7、上升時(shí)間：7ns
8、極化測試到：10fC
9、塊體材料樣品盒可進(jìn)行室溫～1200℃電滯回線(xiàn)測定
高溫鐵電測試儀/分析儀
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