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  • HC-RD-1100塞貝克系數電阻測試儀
    HC-RD-1100塞貝克系數電阻測試儀

    更新時(shí)間：2025-07-04

    型號：

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    HC-RD-1100塞貝克系數電阻測試儀：熱電效應描述了材料中溫度和電的相互影響，它基于三個(gè)基本效應：塞貝克效應、珀爾帖效應和湯姆森效應。塞貝克效應是1821年由德國物理學(xué)家J. T. Seebeck發(fā)現的，描述了在電絕緣導體中施加溫度梯度時(shí)電場(chǎng)的形成。
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  • HCAM-50KV四象限輸出高壓放大器
    HCAM-50KV四象限輸出高壓放大器

    更新時(shí)間：2025-05-29

    型號：

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    HCAM-50KV四象限輸出高壓放大器是一款直流穩定的高電壓功率放大器，采用全固態(tài)設計，具有高轉換速率、寬帶寬和低噪聲操作。用于工業(yè)和科研用途的高壓功率放大器，采用全固態(tài)設計，可實(shí)現高轉換速率、高帶寬和低噪聲輸出。
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  • 華測儀器高轉換速率HCAM-7KV高壓功率放大器
    華測儀器高轉換速率HCAM-7KV高壓功率放大器

    更新時(shí)間：2025-05-29

    型號：

    瀏覽量：644

    華測儀器高轉換速率HCAM-7KV高壓功率放大器是一款直流穩定的高電壓功率放大器，采用全固態(tài)設計，具有高轉換速率、寬帶寬和低噪聲操作。
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  • CGO-4半導體封裝材料4英寸真空探針臺帶顯微鏡
    CGO-4半導體封裝材料4英寸真空探針臺帶顯微鏡

    更新時(shí)間：2025-02-28

    型號：CGO-4

    瀏覽量：564

    半導體封裝材料4英寸真空探針臺帶顯微鏡是一種能夠在高真空環(huán)境下進(jìn)行精確測量和實(shí)驗的設備。其基本原理是利用真空環(huán)境下的物理現象和特性，對樣品進(jìn)行各種實(shí)驗和測量。在高真空環(huán)境中，氣體分子很少，這有助于減少空氣阻力、空氣振動(dòng)和其他干擾因素，從而獲得較為準確和可靠的實(shí)驗數據。
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  • CGO-2半導體材料真空探針臺電學(xué)性能測試系統
    CGO-2半導體材料真空探針臺電學(xué)性能測試系統

    更新時(shí)間：2025-02-28

    型號：CGO-2

    瀏覽量：680

    半導體材料真空探針臺電學(xué)性能測試系統是一種能夠在高真空環(huán)境下進(jìn)行精確測量和實(shí)驗的設備。其基本原理是利用真空環(huán)境下的物理現象和特性，對樣品進(jìn)行各種實(shí)驗和測量。在高真空環(huán)境中，氣體分子很少，這有助于減少空氣阻力、空氣振動(dòng)和其他干擾因素，從而獲得較為準確和可靠的實(shí)驗數據。
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  • 優(yōu)良功能材料電測綜合測試系統
    優(yōu)良功能材料電測綜合測試系統

    更新時(shí)間：2025-03-11

    型號：

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    優(yōu)良功能材料電測綜合測試系統是用于鐵電、熱釋電、壓電材料和電卡材料各種重要性能參數測試的最基本儀器設備，可廣泛地應用于如各種鐵電/壓電/熱釋電/電卡薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領(lǐng)域的研究。它不僅可作為近代物理實(shí)驗中的固體物理實(shí)驗設備，還可作為工業(yè)化生產(chǎn)鐵電存儲器的鐵電性能檢測設備。
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  • 橡膠塑料電壓擊穿試驗儀
    橡膠塑料電壓擊穿試驗儀

    更新時(shí)間：2025-04-07

    型號：

    瀏覽量：690

    橡膠塑料電壓擊穿試驗儀采用計算機控制，可對試驗過(guò)程中的各種數據進(jìn)行快速、準確的采集、處理，并可存取、顯示、打印。
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  • 絕緣電阻劣化(離子遷移）評估系統
    絕緣電阻劣化(離子遷移）評估系統

    更新時(shí)間：2025-02-28

    型號：

    瀏覽量：584

    離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場(chǎng)作用下通過(guò)絕緣層向另一極遷移而導致絕緣性能下降。絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統是一種信賴(lài)性試驗設備。
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