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  • HCJDCS-G塑料薄膜、工頻介電常數及介質(zhì)損耗測試儀
    HCJDCS-G塑料薄膜、工頻介電常數及介質(zhì)損耗測試儀

    更新時(shí)間：2024-08-26

    型號：HCJDCS-G

    瀏覽量：1685

    塑料薄膜、工頻介電常數及介質(zhì)損耗測試儀： 主要用于測量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損失角的正切值及電容量。主要可以測量電容器、互感器、變壓器、絕緣紙、電容器薄膜等各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容量（ Cx），其測量線(xiàn)路采用“正接法”即測量對地絕緣的試品。
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  • HCJDCS-G工頻介電常數及介質(zhì)損耗測試儀/華測儀器
    HCJDCS-G工頻介電常數及介質(zhì)損耗測試儀/華測儀器

    更新時(shí)間：2024-08-26

    型號：HCJDCS-G

    瀏覽量：1426

    工頻介電常數及介質(zhì)損耗測試儀/華測儀器： 主要用于測量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損失角的正切值及電容量。主要可以測量電容器、互感器、變壓器、絕緣紙、電容器薄膜等各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容量（ Cx），其測量線(xiàn)路采用“正接法”即測量對地絕緣的試品。
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  • HCJDCS-G工頻介電常數及介質(zhì)損耗測試儀/北京華測
    HCJDCS-G工頻介電常數及介質(zhì)損耗測試儀/北京華測

    更新時(shí)間：2024-08-26

    型號：HCJDCS-G

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    工頻介電常數及介質(zhì)損耗測試儀/北京華測： 主要用于測量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損失角的正切值及電容量。主要可以測量電容器、互感器、變壓器、絕緣紙、電容器薄膜等各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容量（ Cx），其測量線(xiàn)路采用“正接法”即測量對地絕緣的試品。
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  • HCJDCS-G工頻介電常數及介質(zhì)損耗測試儀、北京華測*
    HCJDCS-G工頻介電常數及介質(zhì)損耗測試儀、北京華測*

    更新時(shí)間：2024-08-26

    型號：HCJDCS-G

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    工頻介電常數及介質(zhì)損耗測試儀、北京華測*符合標準： GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(cháng)在內）下電容率和介質(zhì)損耗因數的推薦方法。
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  • HCJDCS-C高頻介損及介電常數測試儀、北京華測銷(xiāo)量*
    HCJDCS-C高頻介損及介電常數測試儀、北京華測銷(xiāo)量*

    更新時(shí)間：2023-08-29

    型號：HCJDCS-C

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    高頻介損及介電常數測試儀、北京華測銷(xiāo)量*： 高頻介損及介電常數測試儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線(xiàn)的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠(chǎng)等單位。主要用于測量玻璃、陶瓷等材料在高頻信號下的介損、介電常數。
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  • HCJDCS-B高頻介電常數測試儀、北京華測*
    HCJDCS-B高頻介電常數測試儀、北京華測*

    更新時(shí)間：2023-08-22

    型號：HCJDCS-B

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    高頻介電常數測試儀、北京華測*： 高頻介損及介電常數測試儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線(xiàn)的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠(chǎng)等單位。主要用于測量玻璃、陶瓷等材料在高頻信號下的介損、介電常數。
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  • HCJDCS-A抗震好、高頻介電常數介質(zhì)損耗測試儀
    HCJDCS-A抗震好、高頻介電常數介質(zhì)損耗測試儀

    更新時(shí)間：2023-08-22

    型號：HCJDCS-A

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    抗震好、高頻介電常數介質(zhì)損耗測試儀: 高頻介損及介電常數測試儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線(xiàn)的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠(chǎng)等單位。主要用于測量玻璃、陶瓷等材料在高頻信號下的介損、介電常數。
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  • HCJDCS-A高頻介電常數介質(zhì)損耗測試儀
    HCJDCS-A高頻介電常數介質(zhì)損耗測試儀

    更新時(shí)間：2023-08-22

    型號：HCJDCS-A

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    高頻介電常數介質(zhì)損耗測試儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線(xiàn)的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠(chǎng)等單位。主要用于測量玻璃、陶瓷等材料在高頻信號下的介損、介電常數。
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