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  • FDS 2000半導體封裝材料絕緣診斷測試系統/測試儀
    FDS 2000半導體封裝材料絕緣診斷測試系統/測試儀

    更新時(shí)間：2024-09-05

    型號：FDS 2000

    瀏覽量：4737

    半導體封裝材料絕緣診斷測試系統/測試儀，是基于電介質(zhì)介電響應理論，集介電響應測試與絕緣狀態(tài)評估及診斷一體的綜合絕緣分析系統。是我們華測公司的優(yōu)質(zhì)儀器，售后好價(jià)格優(yōu)請您放心的選購。
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  • FDS 2000半導體封裝材料絕緣診斷分析儀/測試系統
    FDS 2000半導體封裝材料絕緣診斷分析儀/測試系統

    更新時(shí)間：2024-09-05

    型號：FDS 2000

    瀏覽量：1925

    半導體封裝材料絕緣診斷分析儀/測試系統，是基于電介質(zhì)介電響應理論，集介電響應測試與絕緣狀態(tài)評估及診斷一體的綜合絕緣分析系統。該儀器的測試頻率范圍為1mHz-1kHz，且在低頻范圍內可以選用快速測試方式，在保證測試精度的前提下， 大幅減少實(shí)驗室測量時(shí)的等待時(shí)間及現場(chǎng)測量的停電時(shí)間。
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  • HCLD-III觸摸屏高壓漏電起痕試驗機測試儀器
    HCLD-III觸摸屏高壓漏電起痕試驗機測試儀器

    更新時(shí)間：2024-07-15

    型號：HCLD-III

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    觸摸屏高壓漏電起痕試驗機測試儀器產(chǎn)品簡(jiǎn)介，HCDH-200漏電起痕試驗儀適用于照明設備、低壓電器、家用電 器、機床電器、電機、電動(dòng)工具、電子儀器、電工儀表、信息技術(shù)設備的研究、生產(chǎn)和質(zhì)檢部門(mén)，也適用于絕緣材料、工程塑料、電氣連接件、輔件行業(yè)。，也適用 于電氣能力驗證計劃與技術(shù)研討會(huì )中的有關(guān)CHEARI-PT003耐電痕化指數測試。
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  • Huace-300高阻計 /可測高電阻 微電流
    Huace-300高阻計 /可測高電阻 微電流

    更新時(shí)間：2025-05-29

    型號：Huace-300

    瀏覽量：4970

    Huace-300 高阻計 /可測高電阻 微電流，既可測量高電阻，又可測微電流。測量精度達到3‰。
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  • HCDJC-50KV擊穿電壓測定儀
    HCDJC-50KV擊穿電壓測定儀

    更新時(shí)間：2025-07-04

    型號：HCDJC-50KV

    瀏覽量：290

    HCDJC系列擊穿電壓測定儀采用計算機控制，通過(guò)人機對話(huà)方式，完成對絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿，工頻耐壓試驗。電壓擊穿試驗儀主要適用于固體絕緣材料如絕緣漆、樹(shù)脂和膠、浸漬纖維制品、云母及其制品、塑料、薄膜復合制品、陶瓷和玻璃等。
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  • 華測儀器Huace-991防靜電電阻率測試設備
    華測儀器Huace-991防靜電電阻率測試設備

    更新時(shí)間：2025-02-28

    型號：

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    華測儀器Huace-991防靜電電阻率測試設備在測量導電材料電阻率若采用三電極或二電極測量時(shí)會(huì )因為電極與被測量材料表面電阻而影響測量準確性，本裝置采用四電極（四點(diǎn)探針或四探針）法測量導電和防靜電材料體積電阻率，可以克服表面接觸電阻造成的誤差影響。
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  • HCLD-2固體絕緣材料漏電起痕試驗設備
    HCLD-2固體絕緣材料漏電起痕試驗設備

    更新時(shí)間：2025-02-28

    型號：HCLD-2

    瀏覽量：759

    固體絕緣材料漏電起痕試驗設備(電痕化指數試驗儀)儀主要是模擬家用電器產(chǎn)品在實(shí)際使用中不同極性帶電部件在絕緣材料表面沉積的導電物質(zhì)是否引起絕緣材料現在爬電、擊穿短路和起火危險。
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  • Huace-300高阻計 絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法
    Huace-300高阻計 絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法

    更新時(shí)間：2025-05-29

    型號：Huace-300

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    Huace-300高阻計 絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法既可測量高電阻，又可測微電流。測量精度達到3‰。同時(shí)儀器體積小、重量輕、本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩定、讀數方便等優(yōu)點(diǎn)。數字液晶直接顯示電阻值和電流。量程從0.01×104Ω ～1×1018Ω，是目前國內測量范圍較寬，準確度最高的數顯式絕緣材料電阻率測量?jì)x器。
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