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  • HCRD-300可測薄膜電弱點(diǎn)測試儀有阻尼裝置 新能源
    HCRD-300可測薄膜電弱點(diǎn)測試儀有阻尼裝置 新能源

    更新時(shí)間:2024-12-16

    型號:HCRD-300

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    華測常用可測薄膜電弱點(diǎn)絕緣材料測試儀外形為柜狀一體化設計,左側為走膜及加壓裝置,右側為控制系統及操作面板。走膜裝置、絕緣導向輥、速度檢測輥等構成面積檢測系統;加壓裝置、漏電流采樣電阻等構成電弱點(diǎn)檢測系統??蓽y薄膜電弱點(diǎn)測試儀有阻尼裝置 新能源
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  • HCTZ-2S華測儀器-四探針測試儀
    HCTZ-2S華測儀器-四探針測試儀

    更新時(shí)間:2023-09-19

    型號:HCTZ-2S

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    HCTZ-2S華測儀器-四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的,于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成,測量數據既可由主機直接顯示,亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析,然后以表格,圖形方式統計分析顯示測試結果。
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  • 復合絕緣子憎水性測試儀
    復合絕緣子憎水性測試儀

    更新時(shí)間:2023-09-19

    型號:

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    絕緣子良好的憎水性可以很好的防止污閃,減少事故發(fā)生。所謂憎水性是指絕緣子表面不易受潮, 吸附的水分以不連續的孤立小水珠的形式存在,不形成連續水膜,從而限制了表面泄漏電流,提高閃絡(luò )電壓。憎水性等級較差的絕緣子在運行中極易發(fā)生沿面閃絡(luò ),造成污閃。污閃事故往往造成大面積、長(cháng)時(shí)間停電,導致經(jīng)濟受到嚴重損失,因此復合絕緣子在出廠(chǎng)前必須進(jìn)行憎水性等級評價(jià)。此時(shí)就需要憎水性測試儀。 復合絕緣子憎水性測試儀
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  • Huace-300華測-可測薄膜材料的高阻計電阻率測試儀
    Huace-300華測-可測薄膜材料的高阻計電阻率測試儀

    更新時(shí)間:2024-08-30

    型號:Huace-300

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    華測-可測薄膜材料的高阻計電阻率測試儀采用低溫漂系數極低的電阻,肖特基高壓溫壓二極管。
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  • Huace-300可測薄膜材料的高阻計電阻率測試儀
    Huace-300可測薄膜材料的高阻計電阻率測試儀

    更新時(shí)間:2024-08-30

    型號:Huace-300

    瀏覽量:2194

    可測薄膜材料的高阻計電阻率測試儀采用低溫漂系數極低的電阻,肖特基高壓溫壓二極管。
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  • 可測電容量的工頻介電常數測試儀
    可測電容量的工頻介電常數測試儀

    更新時(shí)間:2024-08-26

    型號:

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    可測電容量的工頻介電常數測試儀主要用于測量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損失角的正切值及電容量。主要可以測量電容器、互感器、變壓器、絕緣紙、電容器薄膜等各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗(tgδ)和電容量( Cx),其測量線(xiàn)路采用“正接法”即測量對地絕緣的試品。
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  • Huace-991可測薄膜的導電與防靜電體積電阻率測試儀
    Huace-991可測薄膜的導電與防靜電體積電阻率測試儀

    更新時(shí)間:2024-08-26

    型號:Huace-991

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    可測薄膜的導電與防靜電體積電阻率測試儀采用標準的四電極,可以測量測量20個(gè)數量級范圍的電阻率,幾乎可以測量從金屬導體到所有靜電導電材料、靜電屏蔽材料及靜電消電等各種材料導電、防靜電塑料、橡膠體積電阻率。
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  • 電弱點(diǎn)測試儀器 根據膜寬度不用切卷 新能源
    電弱點(diǎn)測試儀器 根據膜寬度不用切卷 新能源

    更新時(shí)間:2024-12-16

    型號:

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    電弱點(diǎn)測試儀器 根據膜寬度不用切卷 新能源外形為柜狀一體化設計,左側為走膜及加壓裝置,右側為控制系統及操作面板。走膜裝置、絕緣導向輥、速度檢測輥等構成面積檢測系統;加壓裝置、漏電流采樣電阻等構成電弱點(diǎn)檢測系統。
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