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  • 絕緣材料耐電弧試驗機設備*HCDH-III
    絕緣材料耐電弧試驗機設備*HCDH-III

    更新時(shí)間：2025-01-02

    型號：

    瀏覽量：2316

    絕緣材料耐電弧試驗機設備*HCDH-III符合GB/T 1411-2002 《干固體絕緣材料 耐高電壓、小電流電弧放電的試驗 》符合IPC650、IEC61621、ASTMD495及JEC149、UL746A試驗方法。
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  • 小電流介質(zhì)材料耐電弧試驗儀HCDH-III
    小電流介質(zhì)材料耐電弧試驗儀HCDH-III

    更新時(shí)間：2025-01-02

    型號：

    瀏覽量：3478

    小電流介質(zhì)材料耐電弧試驗儀HCDH-III符合GB/T 1411-2002 《干固體絕緣材料 耐高電壓、小電流電弧放電的試驗 》符合IPC650、IEC61621、ASTMD495及JEC149、UL746A試驗方法。
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  • 計算機控制耐電弧試驗儀HCDH-III測試儀器
    計算機控制耐電弧試驗儀HCDH-III測試儀器

    更新時(shí)間：2025-01-02

    型號：

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    計算機控制耐電弧試驗儀HCDH-III測試儀器適應于電機、電器及家電等行業(yè)的電工用塑料、樹(shù)脂膠、絕緣漆、以及層壓板、覆銅箔板等絕緣材料等介質(zhì)的耐電弧測試
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  • 小電流絕緣漆耐電弧試驗儀*HCDH-III
    小電流絕緣漆耐電弧試驗儀*HCDH-III

    更新時(shí)間：2025-01-02

    型號：

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    小電流絕緣漆耐電弧試驗儀*HCDH-III符合GB/T 1411-2002 《干固體絕緣材料 耐高電壓、小電流電弧放電的試驗 》符合IPC650、IEC61621、ASTMD495及JEC149、UL746A試驗方法。
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  • HCTZ-2S讀數穩定手持式四探針測試儀器
    HCTZ-2S讀數穩定手持式四探針測試儀器

    更新時(shí)間：2024-06-13

    型號：HCTZ-2S

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    讀數穩定手持式四探針測試儀器可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻，適用于半導體和太陽(yáng)能材料測試的要求，也可對分立電阻進(jìn)行測量，USB接口可為用戶(hù)提供遠程控制及測試數據的統計和分析。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應固定場(chǎng)合對元器件進(jìn)行檢測，又可隨身攜帶以滿(mǎn)足測試人員的現場(chǎng)測試要求。
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  • HCTZ-2S自動(dòng)修正手持式四探針測試儀器
    HCTZ-2S自動(dòng)修正手持式四探針測試儀器

    更新時(shí)間：2024-06-13

    型號：HCTZ-2S

    瀏覽量：1345

    自動(dòng)修正手持式四探針測試儀器可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻，適用于半導體和太陽(yáng)能材料測試的要求，也可對分立電阻進(jìn)行測量，USB接口可為用戶(hù)提供遠程控制及測試數據的統計和分析。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應固定場(chǎng)合對元器件進(jìn)行檢測，又可隨身攜帶以滿(mǎn)足測試人員的現場(chǎng)測試要求。
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  • HCTZ-2S液晶顯示手持式四探針測試儀器
    HCTZ-2S液晶顯示手持式四探針測試儀器

    更新時(shí)間：2024-06-13

    型號：HCTZ-2S

    瀏覽量：1538

    液晶顯示手持式四探針測試儀器，可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻，適用于半導體和太陽(yáng)能材料測試的要求，也可對分立電阻進(jìn)行測量，USB接口可為用戶(hù)提供遠程控制及測試數據的統計和分析。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應固定場(chǎng)合對元器件進(jìn)行檢測，又可隨身攜帶以滿(mǎn)足測試人員的現場(chǎng)測試要求。
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  • Huace-991靜電塑料導電材料體積電阻率試驗裝置
    Huace-991靜電塑料導電材料體積電阻率試驗裝置

    更新時(shí)間：2023-12-19

    型號：Huace-991

    瀏覽量：1353

    靜電塑料導電材料體積電阻率試驗裝置： 在測量導電材料電阻率若采用三電極或二電極測量時(shí)會(huì )因為電極與被測量材料表面電阻而影響測量準確性，本裝置采用四電極（四點(diǎn)探針或四探針）法測量導電和防靜電材料體積電阻率，可以克服表面接觸電阻造成的誤差影響。
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