華測變溫鐵電測試盒/鐵電分析儀/電滯回線(xiàn)

高溫測量鐵電參數測試儀

華測高溫測量鐵電參數測試儀 電滯回線(xiàn)產(chǎn)品介紹：          

本測試系統采用虛地模式測量電路，與傳統的Sawyer-Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環(huán)節，比較容易定標和，并且能實(shí)現較高的測量，它不僅能畫(huà)出鐵電薄膜的電滯回線(xiàn)，還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和化ps、剩余化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流Ik等參數，以及對鐵電薄膜材料鐵電疲勞、鐵電保持的測試。能夠測量鐵電薄膜的鐵電。儀器采用一體化設計，實(shí)現測試結果全數字化，操作簡(jiǎn)單方便。

軟件功能：                                  

HC5000系列測試系統的軟件平臺hacepro,采用labview系統開(kāi)發(fā)，符合導體、半導體材料的各項測試需求，具備穩定性與性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料可保存恢復。兼容，XP、win7、win10系統。

友善的使用界面

多語(yǔ)界面：支持中文/英文 兩種語(yǔ)言界面；

即時(shí)監控：系統測試狀態(tài)即時(shí)瀏覽，無(wú)需等待；

圖例管理：通過(guò)軟件中的狀態(tài)圖示，一目了然，立即對狀態(tài)說(shuō)明，了解測試狀態(tài)；

使用權限：可設定使用者的權限，方便管理；

故障狀態(tài)：軟件具有設備的故障報警功能。

優(yōu)點(diǎn)：                                                  

可測量壓電陶瓷居里溫度、靜態(tài)壓電常數；

測量壓電材料介電-1KHZ下的介電常數及介質(zhì)損耗測試；

可測量壓電材料積分電荷法熱釋電系數測試

它可測量壓電陶瓷的因數及機電耦合系數

可選配不同的測試裝置進(jìn)行不同環(huán)境下的壓電陶瓷參數測試        

本儀器可配合高壓放大器實(shí)現壓電及鐵電材料的綜合測

壓電常數測試原理：                                          

熱釋電系數測試原理：