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  • 100KV計算機控制介電擊穿電壓強度測量裝置
    100KV計算機控制介電擊穿電壓強度測量裝置

    更新時(shí)間：2025-04-07

    型號：100KV

    瀏覽量：1411

    計算機控制介電擊穿電壓強度測量裝置滿(mǎn)足GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強度試驗方法　第1部分；工頻下試驗》、GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強度和耐電壓的測定方法》、GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗方法》、GB/T 12656-1990《電容器紙工頻擊穿電壓測定法》、GB/T1981及ASTM D149標準要求設計制造。
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  • 直流電壓擊穿強度試驗儀HCDJC-100KV
    直流電壓擊穿強度試驗儀HCDJC-100KV

    更新時(shí)間：2025-04-07

    型號：

    瀏覽量：1984

    華測絕緣材料直流電壓擊穿強度試驗儀HCDJC-100KV滿(mǎn)足GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強度試驗方法　第1部分；工頻下試驗》、GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強度和耐電壓的測定方法》、GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗方法》、GB/T 12656-1990《電容器紙工頻擊穿電壓測定法》、GB/T1981及ASTM D149標準要求設計制造。
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  • 陶瓷玻璃電壓擊穿試驗儀HCDJC-20KV
    陶瓷玻璃電壓擊穿試驗儀HCDJC-20KV

    更新時(shí)間：2025-04-07

    型號：

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    華測陶瓷玻璃電壓擊穿試驗儀HCDJC-20KV滿(mǎn)足GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強度試驗方法　第1部分；工頻下試驗》、GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強度和耐電壓的測定方法》、GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗方法》、GB/T 12656-1990《電容器紙工頻擊穿電壓測定法》、GB/T1981及ASTM D149標準要求設計制造。
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  • 硅膠工頻電壓擊穿強度試驗儀HCDJC-20KV
    硅膠工頻電壓擊穿強度試驗儀HCDJC-20KV

    更新時(shí)間：2025-01-09

    型號：

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    硅膠工頻電壓擊穿強度試驗儀HCDJC-20KV滿(mǎn)足GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強度試驗方法　第1部分；工頻下試驗》、GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強度和耐電壓的測定方法》、GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗方法》、GB/T 12656-1990《電容器紙工頻擊穿電壓測定法》、GB/T1981及ASTM D149標準要求設計制造。
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  • HCDJ-100KV電壓擊穿強度測量裝置
    HCDJ-100KV電壓擊穿強度測量裝置

    更新時(shí)間：2025-01-09

    型號：

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    HCDJ-100KV電壓擊穿強度測量裝置 ●多級循環(huán)電壓采集技術(shù)： 材料擊穿后，瞬間放電速度約為光速的1/5～1/3,通用的方法為壓降法進(jìn)行采集擊穿電壓。即變壓器的初級電壓瞬間下降一定比率來(lái)判別材料是否擊穿。顯然記錄擊穿電壓值產(chǎn)生偏差。而采用多級循環(huán)采集技術(shù)對擊穿后的電壓采集將解決此難題。
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  • HCDI-50KV計算機控制電壓擊穿強度測試儀
    HCDI-50KV計算機控制電壓擊穿強度測試儀

    更新時(shí)間：2025-04-07

    型號：

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    HCDI-50KV計算機控制電壓擊穿強度測試儀●多級循環(huán)電壓采集技術(shù)： 材料擊穿后，瞬間放電速度約為光速的1/5～1/3,通用的方法為壓降法進(jìn)行采集擊穿電壓。即變壓器的初級電壓瞬間下降一定比率來(lái)判別材料是否擊穿。顯然記錄擊穿電壓值產(chǎn)生偏差。而采用多級循環(huán)采集技術(shù)對擊穿后的電壓采集將解決此難題。
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  • HCRD-300全自動(dòng)控制 電弱點(diǎn)測試儀器 新能源電池
    HCRD-300全自動(dòng)控制 電弱點(diǎn)測試儀器 新能源電池

    更新時(shí)間：2024-12-16

    型號：HCRD-300

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    全自動(dòng)控制、電弱點(diǎn)測試儀器HCRD-300： 全自動(dòng)控制 電弱點(diǎn)測試儀器 新能源電池是根據GB/T 13542-92、IEC 60674-2:1988 電氣用塑料薄膜標準要求設計的高壓試驗裝置。主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下每平方米的擊穿點(diǎn)數。本機采用計算機控制，可對試驗過(guò)程中的各種數據進(jìn)行快速、準確的采集、處理，并可存取、顯示、打印 。
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  • 計算機控制電弱點(diǎn)測試儀器HCRD-300
    計算機控制電弱點(diǎn)測試儀器HCRD-300

    更新時(shí)間：2025-04-07

    型號：

    瀏覽量：1891

    計算機控制電弱點(diǎn)測試儀器HCRD-300： 該儀器是根據薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測試，測試寬度可根據用戶(hù)的要求而設定，無(wú)須將膜分切成小卷，免除了許多外來(lái)因素對測試結果的影響。測試數據能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。有效地保證了設備的可靠性、耐用性和穩定性。測量準確，復現性好。測試過(guò)程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。擊穿電流在0～40mA連續可調，復現性好。
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