北京華測高溫四探針測試儀上市啦

北京華測試驗儀器有限公司高溫四探針測試儀上市啦！華測儀器全心全意為客戶(hù)提供各種的服務(wù)，以高素質(zhì)的服務(wù)隊伍，對客戶(hù)實(shí)施的照顧，成為儀器行業(yè)服務(wù)的表率，為儀器發(fā)展作出貢獻。

●Huace-600高溫四探針測量系統，該系統可以測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻 以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜的方塊電阻，該設備按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M 標準而設計的。

●采用由四端測量方法測試電阻率系統與高溫試驗箱為一體的的高溫測試系統，滿(mǎn)足半導體及導體材料因溫度變化對電阻值變化的 測量要求，通以在高溫 、真空、氣氛的條件下測量導電材料電阻和電阻率，可以分析被測樣的電阻和電阻率隨溫度、 時(shí)間變化的曲 線(xiàn)． 目前主要針對圓片、方塊、長(cháng)條等樣品進(jìn)行測試，可以廣泛用于碳系導電材料、 金屬系導電材料、 金屬氧化物系導電材料、結 構型高分子導電材料、復合導電材料等材料的電阻率測量。 過(guò)測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導率數據的變化曲 線(xiàn)。