熱釋電系數測試儀測試方法介紹
更新時(shí)間：2022-12-27 點(diǎn)擊次數：523
熱釋電系數測試儀是某些材料在溫度變化的作用下產(chǎn)生電荷的能力，具有熱釋電性的材料稱(chēng)為熱釋電材料。通常，熱釋電材料宏觀(guān)電矩正端表面將吸引負電荷，負端表面吸引正電荷，直到電矩產(chǎn)生的電場(chǎng)全被屏蔽為止。
熱釋電系數測試儀工作時(shí)，當溫度變化，材料的宏觀(guān)電極化強度改變，屏蔽電荷失去平衡，材料表面多余的屏蔽電荷被釋放出來(lái)，形成可以檢測到的電流，這種效應稱(chēng)為熱釋電效應。
熱釋電系數可用靜態(tài)法、動(dòng)態(tài)法和積分電荷法測試，其中積分電荷法得到廣泛應用。該方法通過(guò)測量在電容器上積累的熱釋電電荷，測定剩余極化隨溫度的變化。
使用靜電計測得積分電容兩端電壓，輸出至函數記錄儀Y端，由于積分電容值遠大于試樣電容值，其兩端的電壓變化正比于試樣剩余極化的變化。同時(shí)，用X端記錄試樣溫度變化，可得到熱釋電電荷Q隨溫度T變化的曲線(xiàn)，微分該曲線(xiàn)，就可得到熱釋電系數。
測試設備的加熱油槽由銅制成，外殼接地以屏蔽外來(lái)信號的干擾，內盛絕緣油，絕緣油應該浸沒(méi)試樣架和測溫熱電偶，外加保溫材料。熱電偶的工作溫度范圍為室溫至85℃，溫差電動(dòng)勢大者為宜。
積分電容視試樣電容大小及熱釋電系數大小而定，一般為10μF。直流電阻不小于109Ω。靜電計輸入阻抗不小于1010Ω。函數記錄儀的相對誤差小于或等于1％。
整個(gè)系統放電時(shí)間常數不小于4×103s，相對于采用10μF積分電容而言系統總電阻大于5×108Ω。試樣要求全電極極化試樣，電阻R不小于109Ω，其尺寸為：面積1cm2，厚度t不小于0.5mm。
地址：北京海淀區
郵箱：LH13391680256@163.com
傳真：
當前位置：