揭秘：以塞貝克系數測試儀如何革新熱電材料檢測

應用領(lǐng)域

熱電材料開(kāi)發(fā)與性能優(yōu)化

• 測量半導體、方鈷礦、Skutterudite等熱電材料的塞貝克系數與電導率，計算ZT值（熱電優(yōu)值）；

• 評估材料在高溫（如1500℃）或惡劣環(huán)境（真空/還原氣氛）下的熱電轉換效率。

能源材料與器件研究

• 鋰離子電池電極材料、固態(tài)電解質(zhì)的電阻率與界面接觸特性分析；

• 燃料電池催化劑在氧化/還原氣氛中的導電性能測試。

電子與功能材料表征

• 半導體薄膜、導電高分子、金屬氧化物的電輸運特性研究；

• 高溫超導材料、陶瓷基復合材料的電阻-溫度關(guān)系曲線(xiàn)測定。

工業(yè)材料質(zhì)量控制與工藝優(yōu)化

• 合金、陶瓷、碳材料的熱-電協(xié)同性能檢測，指導燒結工藝參數調整；

• 高溫涂層、耐腐蝕材料在模擬工況（如真空、惰性氣氛）下的電學(xué)行為評估。

科研與標準化測試

• 高校及科研院所用于熱電效應、導電機制等基礎理論研究；

• 依據國際標準（如ASTM E1225）開(kāi)展材料熱電性能認證測試。

特點(diǎn)

• 文本編輯

• 重復測量可少的輸入參數

• 實(shí)時(shí)測量分析

• 測量曲線(xiàn)比較：多達32條曲線(xiàn)

• 曲線(xiàn)扣除

• 曲線(xiàn)放大縮小

• 一階/二階求導

• 多重峰分析

• 樣品溫度多點(diǎn)校正

• 多種方法分析（DSC TG 、TMA、DIL等）

• 焓變多點(diǎn)校正

• 熱流Cp測量

• 評估結果保存及導出

• ASCII數據導入與導出

• 數據生成到MS Excel

• 信號控制測量測序

產(chǎn)品優(yōu)勢

寬溫區覆蓋與高適應性

l 支持 RT 至 1500℃ 超寬溫度范圍，兼容低溫至超高溫測試，滿(mǎn)足熱電材料、高溫合金等多種材料研究需求；

l 提供惰性、氧化、還原、真空多氣氛環(huán)境，適配材料在不同反應條件下的性能評估。

高精度與多功能集成

l 塞貝克系數測量范圍 1～2500μV/K ，準確度達 ±7% ，重復性 ±3% ，精準捕捉微弱熱電效應；

l 電導率測量范圍覆蓋 0.01～2×105 S/cm ，準確度 ±5～8% ，支持從絕緣體到導體的全品類(lèi)材料電阻率分析；

l 采用靜態(tài)直流法（塞貝克系數）與四端法（電阻率），確保測量結果穩定可靠。

靈活兼容性與操作便捷性

l 支持圓柱形（φ6mm）、棱柱形（2~5mm面寬）及圓盤(pán)狀（10~25.4mm）多種樣品尺寸，適配復雜形狀試樣；

l 可調探頭距離（4/6/8mm）與三明治夾持結構，保障樣品接觸穩定性，減少測量誤差；

l 電極材料可選鎳（-100～500℃）或鉑（-100～1500℃），靈活應對不同溫區與材料特性。

高穩定性與長(cháng)周期測試能力

l 電源輸出 0～1A ，具備長(cháng)期穩定性，支持連續高溫實(shí)驗與長(cháng)時(shí)間數據采集；

l 配備K/S/C型熱電偶，實(shí)現精準溫度監控與閉環(huán)控制。