絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統的應用領(lǐng)域？

產(chǎn)品介紹：

離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場(chǎng)作用下通過(guò)絕緣層向另一極遷移而導致絕緣性能下降。絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統是一種信賴(lài)性試驗設備。它通過(guò)在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經(jīng)過(guò)長(cháng)時(shí)間的測試（1~1000小時(shí)可按需定制），觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現象發(fā)生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現象的影響。

應用領(lǐng)域：

封裝材料：助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹(shù)脂、導電膠等有關(guān)印刷電路板、高密度封裝的材料；

電子材料：印BGA、CSP等精細節距IC封裝件；

有機半導體：PPV、NDI、OFETs、OSCs、OLEDs等；

電子元器件：電容、連接器等其他電子元器件及材料；

絕緣材料：各種絕緣材料的吸濕性特性評估。