高溫介電溫譜測試

高溫介電溫譜測試是一種重要的熱分析方法，它能夠測定材料在高溫下的介電性能，并對材料的結構與性質(zhì)進(jìn)行研究。

測試用途

1.了解材料介電性能隨溫度的變化規律。

2.研究材料結構與性質(zhì)之間的關(guān)系。

3.評估材料的電學(xué)性能，并為其制備和應用提供科學(xué)依據。

華測高溫介電溫譜測試系統運用三電極法設計原理測量。重復性與穩定性好，采用雙屏蔽高頻測試線(xiàn)纜，提高測試參數的準確度，同時(shí)抗擾，能力強。本設備也可應用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途。

搭配Labview系統開(kāi)發(fā)的Huacepro軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數等設置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況以保證測試過(guò)程的；資料保存機制，當遇到電腦異常瞬時(shí)斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗數據，設備重新啟動(dòng)后可恢復原有試驗數據。

目前電網(wǎng)中大量使用變頻器等高頻、高功率設備，將對電網(wǎng)造成諧波干擾。從而在高頻、弱信號測量過(guò)程中影響弱信號的采集，華測儀器公司推出的抗擾模塊以及采用參數分析技術(shù),實(shí)現了高達120MHz的高頻測量,從而滿(mǎn)足了很多半導體,功能材料和納米器件的測試需求.