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薄膜電弱點(diǎn)的結構參數

更新時(shí)間:2022-01-17      點(diǎn)擊次數:1253

 

一、設備結構:

 

圖片1.png

 

電弱點(diǎn)測試儀外形為柜狀一體化設計,左側為走膜及加壓裝置,右側為控制系統及操作面板。走膜裝置、絕緣導向輥、速度檢測輥等構成面積檢測系統;加壓裝置、漏電流采樣電阻等構成電弱點(diǎn)檢測系統。

 

電弱點(diǎn)試驗儀.jpg


二、設備參數:

1、試驗電壓:最大6000V

2、有效測量范圍:0-6KVDC

3、電壓測量精度:±2%

4、膜移動(dòng)速度:1-5m/min連續可調

5、保護電流:0~40mA

6、樣品寬度:60~650mm(可調)

7、輸入電壓:220V

8、功率:1KW


三、公司主營(yíng)產(chǎn)品:

      華測幾大系列:介電擊穿強度試驗儀(電壓擊穿試驗儀)、表面體積電阻率測度儀、電痕化指數試驗儀、耐電弧試驗儀、沖擊電壓試驗儀、萬(wàn)能材料試驗機、薄膜沖擊試驗機、落錘式?jīng)_擊試驗機、馬丁耐熱試驗儀、熔體流動(dòng)速率測定儀、軟磁交流測試系統、軟磁直流測試系統、納米犬分析測試儀、多功能精密電池測試分析儀、霍尼韋爾便攜氣體檢測儀、復合氣體檢測儀、便攜式氧氣檢測儀、臭氧檢測儀、防水型二氧化氯檢測儀、硫化氫檢測報警器、液化氣檢測報警、電動(dòng)自行車(chē)電池、無(wú)線(xiàn)傳感器電池、電動(dòng)汽車(chē)電池、礦燈電池、儲能電池等數百個(gè)產(chǎn)品。


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