技術(shù)指標：

1. 溫度范圍: 室溫~1000℃

2. 量程范圍: 0～±2000μV

3. DTA精度: ±0.1μV

4. 升溫速率: 1～80℃/min

5. 溫度分辨率: 0.1℃

6. 溫度準確度: ±0.1℃

7. 溫度重復性: ±0.1℃

8. 溫度控制: 升溫：程序控制        可根據需要進(jìn)行參數的調整

降溫：風(fēng)冷程序控制   可選配半導體冷卻系統、液氮冷卻系統等

恒溫：程序控制        恒溫時(shí)間任意設定

9. 爐體結構: 爐體采用上開(kāi)蓋式結構，代替了傳統的升降爐體，精度高，易于操作

10. 氣氛控制: （選配）氣體流量計，氣氛轉換裝置

11. 數據接口: RS-232串口通訊 配套數據線(xiàn)和操作軟件

12. 主機顯示: 漢字大屏液晶顯示藍底白字

13. 參數標準: 配有標準物,用戶(hù)可自行對溫度進(jìn)行校正

14. 基線(xiàn)調整: 用戶(hù)可通過(guò)基線(xiàn)的斜率和截距來(lái)調整基線(xiàn)

15. 工作電源: AC 220V  50Hz

華測差熱分析（DTA）是在程序控制溫度下，測量物質(zhì)和參比的溫度差和溫度關(guān)系的一種技術(shù)。當試樣發(fā)生任何物理或化學(xué)變化時(shí)，所釋放或吸收的熱量使試樣溫度高于或低于參比物的溫度，從而相應地在差熱區線(xiàn)上可得到放熱或吸熱峰。差熱曲線(xiàn)（DTA）是由差熱分析得到的記錄曲線(xiàn)。曲線(xiàn)的縱坐標為試樣與參比物的溫度差（△T），向上表示放熱反應，向下表示吸熱反應。差熱分析也可以測定試樣的熱容變化，它在差上發(fā)映出基線(xiàn)的偏離。

華測其它相關(guān)產(chǎn)品：

可按用戶(hù)要求訂制非標產(chǎn)品

華測儀器--致力于材料電學(xué)測試技術(shù)