薄膜電弱點(diǎn)測試儀的研制

    電氣用塑料薄膜的生產(chǎn)過(guò)程中，會(huì )出現薄膜穿孔、導電顆粒積聚、

劃傷等影響電氣的電弱點(diǎn)。根據標準《GB/T 13541-92 電氣

用塑料薄膜試驗方法》，電氣用塑料薄膜要求進(jìn)行電弱點(diǎn)測試，在給

定直流電壓下每平方米的擊穿點(diǎn)（電弱點(diǎn)）數成為衡量薄膜質(zhì)量的重

要指標。設計的薄膜電弱點(diǎn)測試儀，無(wú)須將膜卷分切成小卷，根據薄

膜的使用寬度直接進(jìn)行電弱點(diǎn)測試。由于薄膜在生產(chǎn)過(guò)程中極易引起

縱向劃傷，該儀器*引用“電弱線(xiàn)”概念，即在規定的時(shí)間內檢測

到的試樣漏電流均超過(guò) 1 mA 時(shí)，認定為該薄膜試樣在生產(chǎn)過(guò)程中存

在縱向劃痕，從而產(chǎn)生“電弱線(xiàn)”，測試儀統計的電弱點(diǎn)總數為電弱

點(diǎn)數與電弱線(xiàn)數之和，這樣的測試數據能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水

平，且有助于分析生產(chǎn)過(guò)程中存在的問(wèn)題，從而有針對地提出解決問(wèn)

題的方案。

工作原理：

    被測試的薄膜卷置于放卷臂上，通過(guò)絕緣導向輥將被測試的薄膜牽

引至收卷臂上，伺服電機驅動(dòng)收卷臂使被測試的薄膜移動(dòng)，構成走膜

裝置。通過(guò)固定在速度檢測輥的增量光電編碼器檢測薄膜移動(dòng)長(cháng)度，

根據被測試薄膜的寬度設定測試寬度，從而算出被測試的薄膜測試面

積。

    測試的直流電壓正極接在導電橡膠安裝軸上，通過(guò)導電橡膠與移動(dòng)

的薄膜一面接觸，形成上電極。移動(dòng)的薄膜另一面與構成下電極的銅

輥接觸，銅輥通過(guò)漏電流采樣電阻與直流電壓負極連接，導電橡膠與

銅輥構成加壓裝置。

    由走膜裝置、絕緣導向輥、速度檢測輥等構成被測試薄膜的面積檢

測系統；由加壓裝置、漏電流采樣電阻等構成被測試薄膜的電弱點(diǎn)檢

測系統。

測試儀結構：

    薄膜電弱點(diǎn)測試儀外形為柜狀一體化設計，左側為走膜及加壓裝

置，右側為控制系統及操作面板。