高溫鐵電材料測試儀用途：

 1、高溫電壓提高至：0-20KV

 2、高溫頻率提高至：0-15KHZ

 3.計算機自動(dòng)控制直接讀出數據，測試準確

 4. 配置高壓信號發(fā)生器，可測量陶瓷材料的鐵電。

 5.不僅能畫(huà)出鐵電薄膜的電滯回線(xiàn)，還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流等參數，還可以進(jìn)行鐵電薄膜材料的鐵電疲勞、鐵電保持的測試，電阻測量，漏電流測量。

產(chǎn)品介紹

高溫鐵電測試儀用于鐵電體的鐵電測量，。本測試系統主要包括可編程信號源、微電流放大器、積分器、放大倍數可編程放大器、模/數轉換器數/模轉化器、微機接口部分、微機和應用軟件等部分組成。

本測試系統采用虛地模式測量電路，與傳統的Sawyer-Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環(huán)節，比較容易定標和，并且能實(shí)現較高的測量準確度，它不僅能畫(huà)出鐵電薄膜的電滯回線(xiàn)，還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流Ik等參數，以及對鐵電薄膜材料鐵電疲勞、鐵電保持的測試。。儀器采用一體化設計，實(shí)現測試結果全數字化，操作簡(jiǎn)單方便。

鐵電材料參數測試儀主要是由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發(fā)生器及正、負矩形脈沖和雙極性雙脈沖發(fā)生器外加鐵電材料電滯回線(xiàn)、I-V特性及開(kāi)關(guān)特性測量電路構成。適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電測量，可測量鐵電薄膜電滯回線(xiàn)、I-V特性及開(kāi)關(guān)特性，可準確地測出具有非對稱(chēng)電滯回線(xiàn)鐵電薄膜的Pr值?？蓽y鐵電體材料的電滯回線(xiàn)及IV特性。同時(shí)也可作為一臺通用信號發(fā)生器、高壓信號發(fā)生器使用。

產(chǎn)品特點(diǎn)

• 電滯回線(xiàn)測量、鐵電材料的飽和極化±Ps、剩余極化±Pr、矯頑場(chǎng)±Ec、電容量C等參數
• 鐵電疲勞測量
• 鐵電保持測量
• 電阻測量
• 漏電流測量
• 三維移動(dòng)平臺

軟件功能

HC5000系列測試系統的軟件平臺hacepro,采用labview系統開(kāi)發(fā)，符合導體、半導體材料的各項測試需求，具備穩定性與性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料可保存恢復，。兼容，XP、win7、win10系統。

友善的使用界面

多語(yǔ)界面：支持中文/英文 兩種語(yǔ)言界面；

即時(shí)監控：系統測試狀態(tài)即時(shí)瀏覽，無(wú)需等待；

圖例管理：通過(guò)軟件中的狀態(tài)圖示，一目了然，立即對狀態(tài)說(shuō)明，了解測試狀態(tài)；

使用權限：可設定使用者的權限，方便管理；

故障狀態(tài)：軟件具有設備的故障報警功能。

硬件支持

• 集成Intel@Celeron1037U1.8GHZ雙核處理器
• 集成打印機接口，大可擴充8個(gè)USB接口
• 支持16G內存，60G固體硬盤(pán)，讓系統運行流暢。

應用領(lǐng)域

• 鐵電材料的電滯回線(xiàn)（動(dòng)態(tài)與靜態(tài)）、漏電流等特性。
• 測量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時(shí)的電流響應。
• 超晶格材料在方波脈沖電壓激勵下的自漏電特性。

技術(shù)參數

1、電壓范圍：±30V（可擴展至±4KV）

2、輸出電流峰值：±1A

3、大負荷電容：1μF

4、動(dòng)態(tài)電滯回線(xiàn)測試頻率：0.001Hx～100kHz

5、鐵電材料漏電流的測試：10pA～100mA

6、小脈沖寬度：25ns

7、上升時(shí)間：7ns

8、極化測試到：10fC

9、塊體材料樣品盒可進(jìn)行室溫～1200℃電滯回線(xiàn)測定