對于電壓擊穿試驗儀的選擇不得不了解的幾個(gè)問(wèn)題？

做一個(gè)產(chǎn)品不難，難在做精一個(gè)產(chǎn)品，生產(chǎn)電試驗儀的產(chǎn)品的廠(chǎng)家不在少數。各有千秋？PLC控制的，ARM控制的。手動(dòng)控制的等。對于電壓擊穿試驗儀的選擇不得不了解的以下幾個(gè)問(wèn)題？

一、 電壓擊穿試驗儀在電磁干擾下如何保證長(cháng)期穩定的工作；目前的電子元器件在長(cháng)期的電磁干擾情況下，其必然受到影響。如何處理；

二、無(wú)論是PLC還是電路板控制，又將如何處理其輸入控制高壓的之間的保護；因電路板或PLC晶體管輸入都大約在24V以下工作。雖然說(shuō)有光耦等其保護，但其高壓反饋及高壓電磁干擾下，顯得及其力不從心；

三、如何又保證，高壓放電等情況下的通訊正常及其保護；

四、電網(wǎng)電源的雜波干擾及電網(wǎng)污染的情況下，電子控制系統的穩定性可想而知；在一種控制系統在供電不穩的情況下，又將如何工作

五、材料擊穿瞬間的放電過(guò)程，同時(shí)夾雜著(zhù)干擾勢必影響采集電穿的過(guò)程，又將如何保證擊穿瞬間電壓的真值。

六、、無(wú)論是失壓、門(mén)等一系的保護下。在控制單元萬(wàn)一失效的情況下，又將如何保證。