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北京華測高溫擊穿測試儀的優(yōu)勢

更新時(shí)間:2017-05-19      點(diǎn)擊次數:1490

                        北京華測高溫擊穿測試儀的優(yōu)勢

儀器優(yōu)勢:   
● TVS瞬間抑制防護技術(shù): 
目前材料電壓擊穿試驗儀采用的光耦隔離方式,但光耦與隔離無(wú)非是提高儀器的采集的抗干擾處理。對于電弧放電過(guò)程中的浪涌對控制系統的防護起不到任何作用。這也就是國產(chǎn)儀器維護率過(guò)高的主要原因。而華測的TVS瞬間抑制防護技術(shù),。
 
多級循環(huán)電壓采集技術(shù): 
   
材料擊穿后,瞬間放電速度約為光速的1/51/3,通用的方法為壓降法進(jìn)行采集擊穿電壓。即變壓器的初級電壓瞬間下降一定比率來(lái)判別材料是否擊穿。顯然記錄擊穿電壓值產(chǎn)生偏差。而采用多級循環(huán)采集技術(shù)對擊穿后的電壓采集將解決此難題。 
 
低通濾波電流監測技術(shù)
高壓壓放電過(guò)程中將產(chǎn)生高頻信號。而無(wú)論是國產(chǎn)與電流采集傳感器,大都為工頻電流傳感器。而采集過(guò)程中無(wú)法將高頻信號處理。從而造成檢測不準確。同時(shí)無(wú)論是采用磁通門(mén)或霍爾原理都存在擊穿后瞬間輸出電壓或電流信號過(guò)大,從而燒壞控制系統的采集部分(隔離只起到屏蔽)。華測開(kāi)發(fā)的低濾波電流采集傳感器將高頻夾波信號處
理后,傳入PLC同時(shí)采用穩壓技術(shù)而保證電流采集精度與保護采集元件。  
 
雙系統互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù): 
   
*采用雙系統互鎖技術(shù)應用于電擊穿儀器,目前電壓擊穿儀器大都具備過(guò)壓、過(guò)流保護系統,假如,過(guò)壓或過(guò)流元失效,何來(lái)防護試驗儀器及操作人員。而華測*的雙系統相互制約,當任何元器件出現問(wèn)題或單系統出現故障時(shí),將瞬間切斷高壓。 
軟件功能:
操作系統:支持XP,win7,win8系統,操作人性化;
實(shí)時(shí)監測:在實(shí)驗過(guò)程中可以動(dòng)態(tài)顯示試驗曲線(xiàn);
數據導出:試驗結果方便導出。
實(shí)驗報告:自定義報告名稱(chēng),并對實(shí)驗報告進(jìn)行打??;
試驗方式:直流試驗和交流試驗進(jìn)行選擇;
試驗方法:擊穿電壓、耐壓試驗、階梯升壓試驗多種選擇;
參數設置:可以根據不同的試驗方式及試驗方法靈活設置所需的不同參數值
功能:可針對設備進(jìn)行設置;
:支持及美準;
報警功能:軟件具備電壓、電流報警功能。 

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